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商品編號：10610

Nova™ NanoSEM 掃描電子顯微鏡

價格：詢價

產地：美國更新時間：2020-10-29 11:44

品牌：FEI型號：Nova? NanoSEM

狀態：正常點擊量：1472

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適合各種應用的卓越納米***研究工具

Nova NanoSEM50系列可幫助取得更大成就。 NanoSEM50系列還引入了***低速度新***代的高靈敏可伸縮SE/ BSE和干探測器和多功能的SE/ BSE過濾功能，使感興趣的信息***低速度***佳化。智能掃描模式可用于盡可能避免成像假象。
> 下載 Nova NanoSEM 50 系列數據表
> 下載 Nova NanoSEM 30 系列數據表
> 新星NanoSEM630掃描電子顯微鏡數據

場發射 SEM、超穩定高電流 Schottky 電子槍
? 先進的光學和探測技術，包括沉浸模式、射束減速、透鏡內 TLD-SE 和 TLD–BSE、DBS 和 STEM，可實現***佳信息選擇和圖像優化
? 低至 50 V 的射束著陸能量
? 1.4 nm @ 1 kV、無射束減速
? 全球唯***真正高分辨率的低真空 FESEM： 1.8 nm @ 3 kV 和 30 Pa
? 高達 200 nA 的高真空或低真空分析
? 整合式 16 位掃描/制圖引擎
? 超潔凈、無油滾動和渦輪抽氣真空系統
? 150 x 150 mm 高精密、高穩定壓電樣品臺 (Nova NanoSEM 650)

Nova NanoSEM 50 系列
分辨率高真空	15 kV (TLD) 1 kV (TLD、無 BD) 100 V (DBS) 15 kV, 5 nA	1.0 nm 1.4 nm 3.5 nm 3.0 nm
分辨率低真空	3 kV 和 30 Pa (Helix)	1.8 nm
射束電流		高達 200 nA
著陸電壓范圍		50 V - 30 kV
樣品臺	X x Y x Z (mm)	110 x 110 x 25 150 x 150 x 10
機室		大試件室
探測	透鏡內透鏡下、大角度探測器	TLD SE 和 BSE 高靈敏度 DBS (SE/BSE)