現在位置：首頁>通用分析儀器>光譜>
X熒光光譜(XRF)
能量色散X熒光光譜儀2800
價 格：詢價
產 地：能量色散X熒光光譜儀2800更新時間：2020-10-15 17:34
品 牌：天瑞儀器型 號：2800
狀 態：正常點擊量：1458
400-006-7520
聯系我時，請說明是在上海非利加實業有限公司上看到的，謝謝！
聯 系 人：
上海非利加實業有限公司
電 話：
400-006-7520
傳 真：
400-006-7520
配送方式：
上海自提或三方快遞
聯系我時請說在上海非利加實業有限公司上看到的,謝謝！
產品參數
測量元素:從硫至鈾等 75 種元素
元素含量分析范圍:1ppm-99.99%
RoHS 指令規定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)
檢測限最高達 1ppm
測量時間: 60-300s
能量分辨率為： 160±5eV
高壓：5-50kV
管流：50-1000uA
溫度適應范圍： 15-30℃
電源：交流 220±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）
重量：60kg
自動選擇濾光片
多種準直器自動自由切換
電制冷硅針半導體探測器
加強的金屬元素感度分析器
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
任意多個可選擇的分析識別模型
儀器基本配置
信噪比增強器
自動切換準直器和濾光片，分別針對不同樣品
獨特的光路增強系統，方便用戶更好地觀察樣品
測量 RoHS，電鍍鍍層，全元素分析，一機多用
電制冷硅針半導體探測器，摒棄液氮制冷
特別開發的測量軟件，操作界面十分友好
內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時檢測樣品
精準的移動平臺，更精確方便地調節樣品位置
高貴時尚的外型，帶給您全新的視覺沖擊
樣品腔尺寸：605mm*395*100mm
產品介紹
針對RoHS檢測設計開發
測量貴金屬如金、銀、鉑等效果甚佳
分析測量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
也可以測量鍍層厚度
滬公網安備31011502016460號
