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A.比表面積及微孔測試儀數(shù)據(jù)采集及處理

1)采用高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,連接方便,誤差小,抗干擾能力;采用業(yè)界標準的485通訊模式,有利于設備擴展和互連,可方便轉換為所需的RS232和USB通訊模式;

2)多種理論計算模型數(shù)據(jù)分析,為用戶提供全方位的材料分析方案;強大的測試數(shù)據(jù)歸檔保存,查詢系統(tǒng),有利于用戶數(shù)據(jù)管理.

B.比表面積及微孔測試儀控制系統(tǒng)

1)采用廣泛應用于工業(yè)控制系統(tǒng)中的可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),抗干擾能力強,穩(wěn)定性大大提高,安裝及拆卸都非常方便;

2)獨特設計的測試系統(tǒng)管路和樣品處理管路分離結構,有效防止樣品處理過程中產生的雜質對測試管路的污染;
C.比表面積及微孔測試儀真空系統(tǒng)

1)獨創(chuàng)的***體化集裝式管路系統(tǒng),采用進口集裝管路,顯著減少管路連接點,大大降低漏氣率,提高極限真空度;

2)模塊化結構設計,***體式集裝管路,需人工進行連接的部件少,有利于根據(jù)用戶需求按需配置及后期功能擴展,有利于維修更換;

3)采用中德合資的真空泵,噪音小,運行穩(wěn)定,防油返功能卓越,極限真空度高,可達4x10－2Pa (3x10－4Torr);

D.比表面積及微孔測試儀提高測試精度措施

1)采用與同類進口產品相同品牌的高精度硅薄膜壓力傳感器,壓力測量精度為相應讀數(shù)的0.15％,遠遠優(yōu)于0.15％的全量程精度(FS)傳感器;

2)與***外同類產品類似,采用0－10Torr和0－1000Torr雙壓力傳感器,對測試范圍內的壓力采用分段測量,大大降低了低真空下的測量誤差,0－10Torr的硅薄膜壓力傳感器精度遠高于相同量程的皮拉尼電阻真空計(***般誤差為10%-15％);

3)獨創(chuàng)的***體化集裝式管路系統(tǒng),采用進口集裝管路,顯著減少管路連接點,大大減少死體積空間,有利于降低測量誤差;

4)獨創(chuàng)的步進式液氮面控制系統(tǒng),確保測試全程液氮面相對樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測量誤差;

5)獨特設計的抽氣及進氣控制系統(tǒng),有效防止樣品抽真空和進氣過程中的飛濺,確保測試氣路的清潔和樣品質量無損失,保護高精度壓力傳感器免受壓力巨變可能導致的零點和線性漂移;

全自動比表面積及微孔測試儀性能參數(shù)

測試方法及功能:氮吸附真空容量法(真空靜態(tài)法),吸附及脫附等溫線測定,BJH總孔體積及中孔微孔分布測定,樣品真密度測定,t-plot圖法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面積測定(單點及多點),Langmuir法比表面積測定,平均粒徑估算,t－plot圖法外比表面積測定;

測定范圍:0.01(㎡/g)--至無上限(比表面積),0.35nm-400nm(孔徑);

測量精度:重復性誤差小于1.5%;

真空系統(tǒng):V-Sorb獨創(chuàng)的集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng),大大減小管路死體積空間,提高檢測吸附氣體微量變化的靈敏度,從而提高中孔微孔分布測定的分辨率;同時集裝式管路減少了連接點,大大提高密封性和儀器使用壽命;

分壓范圍:P/Po 準確可控范圍達5x10－6－0.995;

極限真空:4x10－2Pa (3x10－4Torr);

樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等;

液位控制:V-Sorb獨創(chuàng)的液氮面控制系統(tǒng),確保測試全程液氮面相對樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測量誤差;

控制系統(tǒng):采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),高集成度和抗干擾能力,提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命;

樣品數(shù)量:同時進行2個樣品分析和2個樣品脫氣處理;

壓力測量:采用壓力分段測量的進口雙壓力傳感器,顯著提高低 P/Po點下測試精度,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-10 Torr (0-1.33Kpa);

壓力精度:進口硅薄膜壓力傳感器,精度達實際讀數(shù)的0.15％,優(yōu)于全量程的0.15％,遠高于皮拉尼電阻真空計精度(一般誤差為10%-15％);

測試氣體:高純N2氣(99.999%)或其它(按需選擇如Ar,Kr);

數(shù)據(jù)采集:高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,誤差小,抗干擾能力強;

數(shù)據(jù)處理:Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,操作簡單,多種模式數(shù)據(jù)分析,圖形化數(shù)據(jù)分析結果報表.

全自動比表面積及微孔分布測定儀詳解

V-Sorb 2800MP比表面積及微孔分布測定儀是粉體和顆粒材料的比表面積的檢測分析儀器，由金埃譜科技與兵器系統(tǒng)合作研發(fā).產品設計遵循***際標準,完全實現(xiàn)制造集成化,功能模塊化,操作自動化和智能化;顯著提高產品可靠性,測試結果準確性,大大節(jié)省測試人員工作量.可用于電池材料比表面積測試，催化劑材料比表面積及微孔測試，炭黑總表面積及外表面積測試等，廣泛適用于高校及科研院所材料研究和粉體材料生產企業(yè)產品質量監(jiān)控。

全自動比表面積及微孔測試儀應用領域

1) 超微粉體，納米材料，顆粒及纖維狀材料比表面積分析測定；
2) 粉體材料生產及應用企業(yè)生產現(xiàn)場產品質量監(jiān)測；
3) 高校及科研單位材料研究測試，吸附科學及BET理論教學實驗；
4) 電池材料，催化劑，添加劑，吸附劑，陶瓷燒結材料，磁性材料，儲能材料等相關性能測定；
5) 其它與材料表面性能相關的研究工作。