光學(xué)NanoGauge C10178-03E
價 格：詢價
產(chǎn) 地：更新時間：2020-12-15 10:31
品 牌：其他型 號：C10178-03E
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2330
400-006-7520
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產(chǎn)品介紹
光學(xué)NanoGauge C10178-03E
詳細(xì)介紹
詳細(xì)參數(shù)
| 型號 | C10178-03E |
| 可測膜厚范圍（玻璃） | 150 nm to 50 μm*1 |
| 測量可重復(fù)性（玻璃） | 0.05 nm*2 *3 |
| 測量準(zhǔn)確性（玻璃） | ±0.4 %*3 *4 |
| 光源 | Halogen light source |
| 光斑尺寸 | Approx. φ1 mm*3 |
| 工作距離 | 10 mm*3 |
| 可測層數(shù) | Max. 10 layers |
| 分析 | FFT analysis, Fitting analysis, Optical constant analysis |
| 測量時間 | 19 ms/point*5 |
| 光纖連接頭 | φ12 sleeve shape |
| 外部控制功能 | RS-232C, PIPE, Ethernet |
| 電源 | AC200 V to AC240 V , 50 Hz/60 Hz |
| 功耗 | Approx. 230 VA |
| 測量波長范圍 | 900 nm to 1650 nm |
| 測量模式（特征） | supports NIR |
*1 轉(zhuǎn)換時玻璃的折射率是1.5
*2 測量400 nm玻璃薄膜厚度時為標(biāo)準(zhǔn)偏差（公差）
*3 取決于光學(xué)系統(tǒng)或物鏡放大倍數(shù)
*4 測量保證范圍同VLSI標(biāo)準(zhǔn)測量保證文件***致
*5 ***短曝光時間
產(chǎn)品特性
● 高速、高準(zhǔn)確性（可測膜厚范圍（玻璃）：150 nm-50μm）
● 實(shí)時測量
● 非恒定膜層的精確測量
● 分析光學(xué)常量(n, k)
● 可外部控制
● 可以使用特定附件測量量子產(chǎn)率，反射率，透射率和吸收率
外形尺寸（單位：mm）
產(chǎn)品優(yōu)勢
C10178型光學(xué)納米膜厚測量系統(tǒng)是***款利用光譜干涉法測量薄膜厚度的非接觸式測量系統(tǒng)。光譜干涉法可以快速、高精度以及高靈敏度地測量出薄膜厚度。我們的產(chǎn)品使用多通道光譜儀PMA作為檢測器，測量各種光學(xué)濾光片和涂膜厚度的同時還可以測量量子產(chǎn)率，反射率，透射/吸收率等參數(shù)。
C10178-03E支持NIR（900 nm至1650 nm）
(AC200 V to AC240 V, 50 Hz / 60 Hz)
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
