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掃描電子顯微鏡（SEM）
掃描電子顯微鏡測試分析
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:01
品 牌：型 號：sem
狀 態：正常點擊量：1732
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服務介紹：SEM/EDX（形貌觀測、成分分析）掃描電鏡（SEM）可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。EDX是借助于分析試樣發出的元素特征X射線波長和強度實現的，根據不同元素特征X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結合電子顯微鏡（SEM）使用，可以對樣品進行微區成分分析。
服務范圍：軍工，航天，半導體，材料等
服務內容：1.材料表面形貌分析，微區形貌觀察
2.材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析
3.薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析
4.納米尺寸量測及標示
5.微區成分定性及定量分析
SEM，EDS，XRD的區別，SEM是掃描電鏡，EDS是掃描電鏡上配搭的*個用于微區分析成分的配件——能譜儀，是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀，是用于物相分析的檢測設備。
SEM用于觀察標本的表面結構，其工作原理是用*束*細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發出次*電子，次*電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣 品的表面結構有關，次*電子由探測體收集，并在那里被閃爍器轉變為光信號，再經光電倍增管和放大器轉變為電信號來控制熒光屏上電子束的強度，顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標本的表面結構。
EDS的原理是各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能*躍遷過程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這*特點來進行成分分析的。
XRD是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。
說簡單點，SEM是用來看微觀形貌的，觀察表面的形態、斷口、微裂紋等等；EDS則是檢測元素及其分布，但是H元素不能檢測；XRD觀察的是組織結構，可以測各個相的比例、晶體結構等。
滬公網安備31011502016460號
