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掃描電子顯微鏡（SEM）
TESCAN聚焦離子束雙束掃描電鏡LYRA3
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:05
品 牌：型 號：Ga FIB-SEM
狀 態：正常點擊量：1320
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TESCAN LYRA3鎵等離子雙束FIB系統
基于高分辨率肖特基FEG-SEM鏡筒和高性能聚焦離子束鏡筒，LYRA3 FIB-SEM是***款SEM與FIB良好結合的***體化系統，能夠滿足高要求客戶的需要。
新***代場發射掃描電子顯微鏡（LYRA3）給用戶帶來了新的技術優點，包括改進的高性能電子設備使成像速度更快，包含了靜態和動態圖像扭曲補償技術的超快掃描系統，內置的編程軟件等，都使LYRA3保持著很高的性價比。
LYRA3系列的設計適用于各種各樣的SEM應用及當今研究和工業的需求。大電子束流下的高分辨率有利于EDX、WDX、EBSD、3維斷層掃描等分析應用。借助于高性能軟件，TESCAN的FIB-SEM已成為適合電子束/離子束光刻、TEM樣品制備等應用的強大工具。LYRA3聚焦離子束掃描電子顯微鏡配備了XM與GM兩種樣品室。
現代電子光路
高性能離子光路
聚焦離子束裝置
維修簡單
只需要很短的停機檢修時間，就能使得電鏡長期保持在優化的狀態。每個細節設計得非常仔細，使得儀器的效率化，操作*簡化。
自動程序
自動設置和許多其他的自動化操作是設備的特點。除此之外，電鏡還有樣品臺自動導航與自動分析 程序，能明顯減少操作員的操作時間。通過內置腳本語言 （Python）可進入操作軟件的大多數功能，包括顯微鏡控制、樣品臺控制、圖像采集、處理與分析。通過腳本語言用戶還可以編程其自己的自動操作程序。
用戶界面友好的軟件與軟件工具
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多用戶和多語言操作界面
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圖像管理與報告生成
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內置的系統檢查與系統診斷
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網絡操作與遠程進入/診斷
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模塊化的軟件結構
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標準的軟件模塊包括：自動離子束控制、電子束寫入基本版、同時的FIB/SEM成像、預定義FIB工作模式等軟件工具
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可選軟件包括了：顆粒度分析標準版/專***版、3維表面重建等模塊
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電子束寫入軟件使聚焦離子束掃描電子顯微鏡成為能進行電子束曝光、電子束沉積、電子束刻蝕、離子束沉積、離子束減薄的強大工具
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可選的3D Tomography軟件提供使用FIB時的全自動連續SEM圖像，三維重構與三維可視化
TESCAN LYRA3鎵等離子雙束FIB系統（XM）
分析潛力
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XM樣品室配置5軸馬達驅動全計算機化優中心樣品臺，完美的幾何設計更適合安裝能譜儀（EDS）、波譜儀（WDX）、電子背散射衍射（EBSD）
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超大樣品室配備有大型樣品臺，可以容納更大的樣品
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優化的幾何設計的允許更多的接口，更適合安裝能譜儀（EDS）、波譜儀（WDX）、電子背散射衍射（EBSD）和其他探頭
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***流YAG閃爍器式探頭
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可選各種探頭和配件
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幾分鐘即可抽到儀器需要的工作真空
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在低真空模式下可以觀測不導電的樣品，觀測磁性樣品的效果非常好，EBSD圖像無扭曲
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內置主動式樣品室防振
LYRA3配置
LYRA3 XMH
配有5軸馬達驅動全計算機化優中心樣品臺的超大樣品室型號，適用于在高真空模式下分析導電的樣品。
LYRA3 XMU
可變真空型掃描電鏡，體現了高真空模式和低真空模式的優點，可以在不噴金的情況下利用低真空模式直接觀察不導電樣品。
軟件（標配）：
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測量
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圖象處理
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3維掃描
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硬度測量
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多圖像校準
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對象區域
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自動關機時間
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公差
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編程軟件
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定位
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投影面積
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EasySEMTM
軟件（選配）：
根據實際配置和需求
配件：
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二次電子探頭
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背散射電子探頭
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In-Beam SE
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In-Beam BSE
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探針電流測量
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壓差式防碰撞報警裝置
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可觀察樣品室內部的紅外線攝像頭
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TOP-SIMS
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二次離子探頭
等，各種配件可供選擇
關于TESCAN
TESCAN發源于全球的電鏡制造基地-捷克Brno，是電子顯微鏡及聚焦離子束系統領域全球知名的跨***公司，有超過60年的電子顯微鏡研發和制造歷史，是掃描電子顯微鏡與拉曼光譜儀聯用技術、聚焦離子束與飛行時間質譜儀聯用技術以及氙等離子聚焦離子束技術的開拓者，也是行業領域的技術***。
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