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透射電子顯微鏡（TEM）
JEOL JEM-2100Plus 200kV六硼化鑭透射電子顯微鏡
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:09
品 牌：型 號：JEM-2100Plus
狀 態：正常點擊量：2900
400-006-7520
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上海自提或三方快遞
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儀器簡介：
JEM-2100Plus廣泛應用于材料科學、納米技術和生命科學等領域。
JEM-2100Plus搭載 64位 Windows操作界面,操作更簡單。并與STEM, EDS, CCD和EELS實現了***體化控制。
JEM-2100Plus高度穩定性的測角臺設計，非常適于包括3位重構在內的樣品臺傾斜。選用日本電子專用軟件，可以輕松實現3D觀察。 壓電陶瓷控制樣品臺也獨步天下。
The JEM-2100Plus采用3***聚光鏡設計在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度電子束，大大提高了分析和衍射成像能力。
技術參數（UHR）：
1.點分辨率：0.19nm
2.線分辨率：0.14nm
3.加速電壓：80, 100, 120, 160, 200kV
4.傾斜角：25
主要特點：
1.五種極靴UHR、HR、HT、HC、CRYO
2.穩定便捷的操作系統
3.*小束斑尺寸：0.5nm
4.良好的擴展性
滬公網安備31011502016460號
