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 　　透射電子顯微鏡是的提供在較高時間分辨率下得到原子***空間分辨率的實驗手段。透射電子顯微鏡原位電學性能測試系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操控和電學測量。并可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，極大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

　　本系統包括包括兩部分，分別是掃描探針控制器（內含電流前置放大器）與原位測量樣品桿部分。

透射電子顯微鏡指標

• 保證透射電鏡原有的分辨率（非球差校正）；

掃描探針操縱指標

• 粗調范圍：XY方向3.0mm，Z方向1.5mm。

• 細調范圍：XY方向20um，Z方向2.0um。

• 細調分辨率：XY方向0.3nm，Z方向0.03nm。

電學測量指標

• 包含***個電流電壓測試單元。

• 電流測量范圍：0-20mA，5個量程。*小電流分辨率：30fA。

• 電壓輸出范圍：普通模式±10V，高壓模式±150V。

• 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。

注：以上指標可能根據系統配置不同而略有變化