Dimension Icon掃描探針顯微系統(tǒng)（Dimension Icon Atomic Force Microscop
價 格：詢價
產(chǎn) 地：更新時間：2021-01-18 15:11
品 牌：型 號：Dimension Icon
狀 態(tài)：正常點擊量：1457
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聯(lián)系我時，請說明是在上海非利加實業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
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儀器簡介：
*新***代 Dimension系列 AFM
Dimension Icon 原子力顯微鏡(AFM）的性能、功能及附件等方面具有全新表現(xiàn)，在聚合物、半導體、能源、數(shù)據(jù)存儲及材料領(lǐng)域的納米研究中將會得到廣泛應(yīng)用。Dimension Icon是Dimension系列產(chǎn)品中的*新款設(shè)備,它基于世界上應(yīng)用*廣泛的AFM平臺，集合了數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新、行業(yè)內(nèi)的應(yīng)用定制及客戶反饋等于***身。這個系統(tǒng)經(jīng)過從上到下的設(shè)計，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現(xiàn)。
技術(shù)參數(shù)：
X-Y方向掃描范圍：90um *90um典型值，*小85um
Z方向掃描范圍：10um典型值，在成像及力曲線模式下；*小9.5um
垂直方向噪音基底：<30pmRMS, 在合適的環(huán)境及典型的成像帶寬（達到625Hz）
X-Y定位噪音（閉環(huán)）：≤0.15nm RMS，典型成像帶寬（達到625Hz）
X-Y定位噪音（閉環(huán)）：≤0.10nm RMS，典型成像帶寬（達到625Hz）
Z傳感器噪音水平（閉環(huán)）：35pm RMS, 典型成像帶寬（達到625Hz）
整體線性誤差（X-Y-Z）：0.5% 典型值
樣品尺寸/夾具：210mm真空吸盤樣品臺，直徑≤210mm, 厚度≤15mm
電動定位樣品臺（X-Y軸）：180mm*180mm可視區(qū)域；單向2um重復(fù)性；雙向3um重復(fù)性。
顯微鏡光學系統(tǒng)：五百萬像素數(shù)字照相機
180um至1465um可視范圍
數(shù)字縮放及自動對焦功能
控制器：NanoScope V型控制器
工作臺：整合所有控制器、結(jié)合人體工學設(shè)計，提供直接的物理或可視借口
震動隔絕：整體式氣動減震臺
聲音隔絕：可隔絕環(huán)境中85 dBC的持續(xù)噪音
主要特點：
結(jié)合Veeco*新的行業(yè)的針尖-掃描AFM技術(shù)，Icon的溫度補償定位傳感器使Z軸的的噪音水平達到亞-埃米***，X-Y方向達埃米***。在大樣品臺、90微米掃描范圍系統(tǒng)的儀器當中，這種表現(xiàn)是非常突出的，優(yōu)于絕大部分的開環(huán)、高分辨率AFM系統(tǒng)的噪音水平。
Icon不僅具有非常好的分辨率，它還具備許多新的特性，以增加新老AFM用戶操作儀器的便捷性及出圖像速率：
• 設(shè)計的掃描管，實現(xiàn)閉環(huán)掃描功能同時，具有開環(huán)掃描管的噪音水平，在大樣品AFM系統(tǒng)中實現(xiàn)前所未有的分辨率
• 全新設(shè)計的XYZ閉環(huán)掃描管，在不影響圖像質(zhì)量下具有非常高的掃描速度，具有非常快的數(shù)據(jù)采集能力
• *新的NanoScope軟件版本，提供直觀的操作流程及默認實驗?zāi)K，將復(fù)雜的AFM操作流程轉(zhuǎn)化為預(yù)先設(shè)置
• 高分辨率的照相機及X-Y定位，實現(xiàn)更迅速、更有效的樣品定位
• 完全開放的針尖及樣品環(huán)境，適用于絕大部分的標準或定制實驗
• 硬件及軟件設(shè)置適用Veeco現(xiàn)有的及即將推出的所有模式及技術(shù)，包括現(xiàn)有的的HarmoniX納米材料性能成像模式
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
