超精密原子力顯微鏡
Park NX20
缺陷分析的*佳選擇
作為***款缺陷形貌分析的精密測量儀器，其主要目的是對樣品進行缺陷檢測。
而儀器所提供的數(shù)據(jù)不能允許任何錯誤的存在。Park NX20，這款全球*精密
的大型樣品原子力顯微鏡，憑借著出色的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性，在半導(dǎo)體和超平樣品行
業(yè)中大受贊揚。
*強大全面的分析功能
具備的功能，可快速幫助客戶找到產(chǎn)品失效的原因，并幫助
客戶制定出更多具有創(chuàng)意的解決方案。無與倫比的精密度為您帶來高分辨率數(shù)
據(jù)，讓您能夠更加專注于工作。與此同時，真正非接觸掃描模式讓探針尖端更耐用，無需為頻繁更換探針而耗費大量的時間和金錢。
即便是次接觸原子顯微鏡的工程師也易于操作
ParkNX20擁有業(yè)界*為便捷的設(shè)計和自動界面，讓你在使用時無需花費大量
的時間和精力，也不用為此而時時不停的指導(dǎo)初學(xué)者。借助這***系列特點，您
可以更加專注于解決更為重大的問題，并為客戶提供及時且富有洞察力的失效
分析報告。
Park Nx 20
創(chuàng)新工作的創(chuàng)新特征
為FA和研究實驗室提供***的形貌測量解決方案
■缺陷檢查成像和分析
■高分辨率電子掃描模式
■對樣品和基片進行表面粗糙度測量
■樣品側(cè)壁三維結(jié)構(gòu)測量
低噪音Z探測器可精確測量AFM表面形貌
■非接觸模式，降低針尖磨損，減少換探針時間
■非接觸模式下的快速缺陷成像
■業(yè)內(nèi)的三維結(jié)構(gòu)測量的解耦XY掃瞄系統(tǒng)
■通過使用熱匹配的組件，盡量減少系統(tǒng)漂移和遲滯現(xiàn)象
低噪聲Z探測器可精確測量AFM表面形貌
■業(yè)界的低噪聲Z檢測器測量樣品表面形貌
■沒有過沿過沖和壓電蠕變誤差的真正樣品表面形貌
■即使是高速掃描也可以保持精確的表面高度
■行業(yè)的前向和后向掃描間隙橫向漂移小于0.15%
用真正的非接觸掃描方式節(jié)省成本
■在***般用途和缺陷成像中，具有普通掃描模式10倍或更長的針尖使用壽命
■減少針尖的尖端摩損
■*真實的再現(xiàn)樣品微觀三維形貌，減少樣品在掃描過程中的損壞或變形
Park NX20
AFM技術(shù)
行業(yè)的低噪聲Z軸探測器
超低噪聲Z探測器，噪音水平低于0.02nm，從而達成非常***樣品形貌成像，
沒有邊沿過沖無須校準(zhǔn)。 NX20為您提供好的數(shù)據(jù)同時也為您節(jié)省寶貴的時間
真正非接觸模式TM可保護針尖鋒利度
原子力顯微鏡的針尖本身很脆弱，在掃描過程中，針尖磨損會逐漸降圖片質(zhì)量和分辨率。
測量表面軟的樣品時，針尖也會破壞樣品并生成不準(zhǔn)確的樣品高度測量數(shù)據(jù)。
作為Park原子力顯微鏡*獨特的***種掃描模式，
真正非接觸模式TM可持續(xù)獲得高分辨率且精確的數(shù)據(jù)，同時保持針尖的完整性。
Park NX20
凝聚著*具創(chuàng)新的AFM技術(shù)
100 μm x μm掃描范圍的XY平板掃描器
XY平板掃描器，采用壓電堆棧設(shè)計，減少傳統(tǒng)掃描過程中XY的正交影響
，具有高速的影響頻率，實現(xiàn)精確的樣品奈米***掃描。
高速Z軸掃描器，掃描范圍達15μm
高強度壓電堆棧和饒性設(shè)計，標(biāo)準(zhǔn)Z軸掃描器的共振頻率大于9kHz(***般為10.5kHz)且探針的Z軸掃描速率不低于48mm/秒。 Z軸掃描范圍可從標(biāo)準(zhǔn)的15μm擴展至30μm(長范圍Z掃描頭)。
低噪聲XYZ位置傳感器
低噪聲XYZ閉環(huán)掃描可將正向掃描和反向掃描間隙降至掃描范圍的0.15%以下。
集成編碼器的XY自動樣品載品
編碼器可用于所有自動樣品載臺，并可保證更高的重復(fù)定位精度，
從而可更精確地控制樣品測量位置。
XY馬達動工作時分辨率為1μm，重復(fù)率為2μm。
Z馬達運動的分辨率為0.1μm，重復(fù)率為1μm。
自動多點樣品掃描
借助驅(qū)動樣品臺，可編程步進掃描，多區(qū)域成像，
以下是它的工作流程：
1.掃描成像
2.抬起懸臂
3.移動驅(qū)動平臺到設(shè)定位置
4.進針
5.重新設(shè)定位置掃描成像
該自動化功能大大減少掃描過程中人工的移動樣品，從而縮短測試時間，提高生產(chǎn)率。
操作方便的樣品臺
獨特的頭部設(shè)計，可使用從側(cè)面操作樣品及探針，
根據(jù)所選擇樣品臺的行程范圍，用品在樣品臺上可放置的樣品直徑200mm。
用于拓展掃描模式易插拔擴展槽
你只需要將可選模塊插入擴展槽，便可激活拓展掃描顯微鏡模式。
得益于NX系列原子力顯微鏡的模塊化設(shè)計，其產(chǎn)品線的配置兼容性大大提高
同軸高功率光學(xué)集成LED照明和CCD系統(tǒng)
定致物鏡配有超長工作距離(50mm,0.21的數(shù)值孔徑，1.0μm的分辨率)，帶來前所未有的鏡頭清晰度。同軸光源設(shè)計讓用戶可輕易地在樣品表面找尋找測試區(qū)域，物鏡*小分辨率為0.7μm。得益于CCD的高端傳感器，在獲得較大視場的同時，但分辨率卻不受影響。由軟件控制的LED光源能為樣品表面提供足夠的照明，便于清晰觀察樣品。
掃描頭滑動嵌入式設(shè)計
你只需滑動嵌入燕尾導(dǎo)執(zhí)便可輕松更換原子力顯微鏡掃描頭。
該設(shè)計可將掃描頭自動鎖定至預(yù)對準(zhǔn)的位置，無須調(diào)節(jié)激光位置，
激光自動投射在針尖上。借助于鄉(xiāng)優(yōu)異的四象限檢測器，
顯微鏡可精確成像并可準(zhǔn)確測定力，距離曲線。
自動Z軸移動和聚焦系統(tǒng)
高度限行Z軸移動和聚焦系統(tǒng)，可以得到清晰的視野和圖像，用戶通過軟件界面進行操作，
由高精度步進電機驅(qū)動，即使液體或者透明樣品也可快速找到樣品表面。
高速24位數(shù)字電子控制器
所有NX系列的原子力顯微鏡都是由相同的NX電子控制器進行控制和處理。
該控制器是個全數(shù)字，24位高速控制器，可確保True Non-ContactTM模式下的成像精度和速度。憑借著低噪音設(shè)計和高速處理單元，該控制器也是納米成象和精確電壓、電流測量的絕佳選擇。嵌入式數(shù)字信號處理為原子力顯微鏡帶來更為豐富的功能，更好的解決方式，是***研究員的*佳選擇。
XY.Z軸檢測器的24位信號分辨率
■XY軸的*小分辨率為0.003nm (50 μm XY掃描器)
■Z軸的*小分辨率為0.001nm (50 μm Z掃描器)
嵌入式數(shù)字信號處理功能
■三個鎖相放大器
■探針彈簧系數(shù)校準(zhǔn)(熱方法)
■數(shù)字化Q控制
集成式信號端口
■專用可編程信號輸入/輸出端口
■7個輸入端口和3個輸出端口
Park NX 20
世界上****和*容易操作的AFM
簡單的探針和樣品更換
獨有的設(shè)計讓您輕易地用手從側(cè)面更換新的探針和樣品。
借助安裝懸臂式探針夾頭中于預(yù)先校準(zhǔn)的探針位置，無須再進行繁瑣的激光調(diào)節(jié)工作。
帶有兩***反饋系統(tǒng)的閉環(huán)XY掃描器
XY掃平板掃描器的每個軸上的低噪聲位移傳應(yīng)器，
可以在進行大掃描范圍時提高樣本掃描正交性。
次***傳感器會對非線性和非平面位置錯誤進行補償，*真實的還原樣品的形貌。
閃電般快速的自動進針
自動的探針樣品進針功能能讓用戶無需進行干預(yù)操作。
通過監(jiān)測懸臂接近表面的反應(yīng)，Park NX20能夠在探針裝載后，十秒內(nèi)自動快速完成探針進針操作。高速、軸掃描器的快速信息反饋和NX電子控制器的低噪聲信號處理使得探針無需用戶干預(yù)就能快速接觸樣品表面。
主動溫控隔音罩
專為Park NX20設(shè)計的隔音罩，主動進行溫度調(diào)節(jié)功能，保證側(cè)試環(huán)境在***個完全穩(wěn)定的熱環(huán)境中。 Park NX20 還具有主動隔振功能，完全與外界的聲、光噪聲隔離，因此測試的準(zhǔn)確性將不受到外界干擾。
■操作簡單-創(chuàng)新的控制設(shè)計使Park NX20能夠快速達于溫度平衡
■節(jié)省操作時間-關(guān)閉隔音罩10分鐘內(nèi)可保持測試環(huán)境低于0.05°C的溫差
Park NX20
可滿足各種測試需求
Park NX20可以滿足科研工作者需要的各種掃描模式，并能滿足您的所有研究需求。
表面粗糙度測量
■真正非接觸模式
■輕敲模式
電學(xué)性能測量
■導(dǎo)電AFM(ULCA和VECA)
■靜電力顯微鏡(EFM)
■壓電力顯微鏡(PFM)
■掃描電容顯微鏡(SCM)
■掃描開爾文探針顯微鏡(SKPM)
■掃描電阻顯微鏡(SSRM)
■掃描隧道顯微鏡(STM)
■光電流顯微鏡(Tr-PCM)
機械性能測量
■力調(diào)制顯微鏡(FMM)
■力-距離(F-D)曲線
■力譜成像
■側(cè)向力顯微鏡(LFM)
■納米壓痕
■納米刻蝕
■相位成像
熱特性
■掃描熱感顯微鏡(SThM)
磁特性
■磁力顯微鏡(MFM)
高***選項
定制你獨有的原子力顯微鏡
自動數(shù)據(jù)收集和分析，適合工業(yè)客戶產(chǎn)線測量
Park的自動化控制軟件，根據(jù)你的預(yù)設(shè)程序，自動進行AFM測量。它可以準(zhǔn)確地收集數(shù)據(jù)，執(zhí)行模式識別，并使用它的尋邊器和光學(xué)模塊進行分析，不需要人工介入，為您節(jié)省測量時間。
傾斜樣品傾角夾具，可以幫助您進行樣品側(cè)壁成像
NX20的創(chuàng)新架構(gòu)讓您可以檢測樣品的側(cè)壁和表面，并測量它們的角度。這項設(shè)計賦予了這個單位更深的靈活性，您可以做更多的創(chuàng)新研究和獲得更深的見解。
■傾斜角度：10°、15°和20°
■樣品尺寸：20mm x 20 mm
■樣本厚度：2mm
嵌入主動溫度控制的隔音罩可以讓您采取更精確的測量
■創(chuàng)新設(shè)計使系統(tǒng)快速達到其溫度平衡
■10分鐘內(nèi)使測試環(huán)境溫差小于0.05°C
■集成式主動減震臺，優(yōu)于老式的氣動平臺，減震效果更佳
閉環(huán)控制電動位移臺
■XY載臺馬達位移機械分辨為1μm，重復(fù)率為2μm
■Z向馬達位移分辨率為0.1μm，重復(fù)率為1μm
樣品盤
■專用芯片樣品盤
■真空吸附盤
■200mm晶圓盤
探針夾具
■固定掃描探針
■可進行導(dǎo)電學(xué)性能測試
■針尖電壓：-10V~+10V
XY掃描器 Z掃描器
■20μm x20μm ■15μm
■50μm x50μm ■30μm
■100μm x100μm
精確的溫度控制
■加熱和冷卻臺(0~180°C)
■250°C加熱臺
■600°C加熱臺
Park NX20
技術(shù)參數(shù)
掃描器
XY掃描器
閉環(huán)控制XY平板掃描器
掃描范圍：100μm x 100μm
50μm x 50μm
25μm x 25μm
20位位置控制和24位位置傳感器
Z掃描器
導(dǎo)向強力Z掃描器
掃描范圍：15μm
30μm
20位位置控制和24位位置傳感器
視場&CCD
同軸光源設(shè)計
10倍光學(xué)物鏡和數(shù)碼放大
光學(xué)物鏡視場：840μm x 630μm
CCD：5MP
光學(xué)物鏡
10X(0.21 NA)超長工作距離鏡頭的物鏡
20X(0.42 NA)高分辨率，長工作距離鏡頭的物鏡
軟件
SmartScan
專用系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采***軟件
智能掃描模式
通過外部程序控制腳本***別(選配)
NXI
AFM數(shù)據(jù)分析軟件
電性能
信號處理
ADC:18通道
ADC通道(64MSPS)
24-bits ADC的X,Y和Z掃描器位置傳感器
DAC:12通道
ADC通道(64MSPS)
20bits DAC的X,Y和Z掃描器定位
數(shù)據(jù)量:4096X4096像素
集成功能
3通道數(shù)字鎖相放大器
探針彈性系數(shù)校準(zhǔn)(熱方法)
數(shù)據(jù)Q控制
外部信號訪問
20個嵌入式舒輸入/舒出口
5個TTL輸出：EOF,EPL,EOP,Modulation and AC bias
選項/模式
成像模式
■真正非接觸模式
■接觸模式
■側(cè)向摩擦力顯微術(shù)(LFM)
■相位成像
■輕敲模式
電學(xué)特性測量
■掃描電容顯微鏡(SCM)
■導(dǎo)電原子力顯微鏡
■靜電力顯微鏡(EFM)
■壓電力顯微鏡(PFM)
■掃描開爾文探針顯微鏡(SKPM/KPM)
■壓電力顯微鏡PFM
***般特性
■磁力顯微鏡(MFM)
■掃描熱感顯微鏡(SThM)
■力***距離(F-D)曲線
■掃描隧道顯微鏡(STM)
■力調(diào)制顯微鏡(FMN)
■納米壓痕
■納米刻蝕
■納米操控
選項
■樣品基座
■具有溫控性能的隔音罩
■液體探手
■液池
■溫控臺
■外部偏置模塊
■信號獲取模塊
運動位移平臺
XY行程范圍：150mm(200mm選配)
Z行程范圍：25mm
XY載臺馬達位移機械分辨率為1μm,重復(fù)率為2μm
Z向馬達位移機械分辨率為0.1μm,重復(fù)率為1μm
樣品基座
樣品尺寸：150mm(200mm選配)
真空樣品吸附
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
