現在位置：首頁>光學儀器>電子顯微鏡>
原子力顯微鏡（AFM）
高性價比-多功能掃描探針顯微鏡（SPM）-原子力顯微鏡（AFM）
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:17
品 牌：型 號：Solver P47-Pro
狀 態：正常點擊量：1985
400-006-7520
聯系我時，請說明是在上海非利加實業有限公司上看到的，謝謝！
聯 系 人：
上海非利加實業有限公司
電 話：
400-006-7520
傳 真：
400-006-7520
配送方式：
上海自提或三方快遞
聯系我時請說在上海非利加實業有限公司上看到的,謝謝！
儀器簡介：
掃描探針顯微鏡(SPM)平臺是為了在納米尺度研究樣品的表面性質而設計的。它能夠讓我們在幾微米到幾個埃的尺寸下肉眼觀察并定量測量樣品的力學性質（硬度，彈性，粘度），電學性質（導電性，電容性，表面電荷分布）以及磁的性質。Solver 平臺擁有超過40 種測量方法，并且實現在大氣，氣氛控制以及液體環境下進行工作。
技術參數：
測量模式： STM/ AFM (接觸 + 輕敲+非接觸)/ 橫向力/ 相位/ 力調制/力譜/粘附力/ 磁力/ 靜電力/ 開爾文/ 擴展電阻/納米壓痕/納米刻蝕: AFM (電壓刻蝕 + 力刻蝕)
掃描方式：樣品掃描、針尖掃描、雙掃描
測量頭部：AFM和SPM，可選配液相模式
樣品尺寸：樣品掃描：直徑40mm，厚度10mm。針尖掃描：樣品無限制
XY樣品定位裝置：移動范圍5×5um，精度5um
光學系統：根據客戶需求配置
樣品溫度控制：室溫~130℃
主要特點：
Solver P47-PRO SPM 是***種可以在空氣、液體和室溫～ 130°C 的可控氣氛下對不同的樣品進行高精度綜合分析的通用儀器。此型號不僅適合小公司或學校的試驗室使用，同樣適合大的研究中心使用。其現代化的設計提供了的測量精度和大量的SPM技術。可選配的雙掃描結構可以將掃描范圍擴展到200x200um。該型號儀器現已裝備到全世界600多個實驗室，其中中***大陸正在使用的用戶達40多個。
滬公網安備31011502016460號
