AFM檢測性能的全新定義
Dimension Icon展現(xiàn)出無與倫比的檢測性能，功能全面，簡便易用，為高質(zhì)量AFM成像和相關(guān)科學(xué)檢測設(shè)定了新的標準，科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者完成出色的研究工作，輕松獲得納米尺度上的檢測結(jié)果。
Bruker Dimension® Icon 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的AFM應(yīng)用體驗，其測試功能強大，操作簡便易行。仍然以世界上應(yīng)用*廣泛的AFM大樣品平臺為 基礎(chǔ)，齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗，廣大客戶反饋，結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求，進行全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計，實現(xiàn)了前所未有的低漂移和低噪音水平， 現(xiàn)在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。
Dimension Icon還配備了Bruker技術(shù)ScanAsyst（自動掃描成像模式），用戶可以簡易快捷地獲得重復(fù)性更好的數(shù)據(jù)，并且降低了對客戶操作經(jīng)驗和操作水平的要求。作為目前配置的AFM，保證客戶高效完成所需的檢測任務(wù)。
聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學(xué)性能表征，MEMS制造，細胞表面形態(tài)觀察，生物大分子的結(jié)構(gòu)及性質(zhì)，數(shù)據(jù)存儲，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研 究，食品、化學(xué)品、護膚品的加工/包裝，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結(jié)構(gòu)，光盤存儲，陶瓷工藝，薄膜性能表征，地質(zhì)、能源、環(huán)境 等領(lǐng)域
Dimension® Icon***的圖像分辨率，與Bruker特有的電子掃描算法相結(jié)合，顯著提升了測量速度與質(zhì)量。Dimension®系列大樣品臺原子力顯微鏡始終處 于行業(yè)地位，*新的Dimension® Icon?是針尖掃描技術(shù)的又***次革新，配置溫度補償位置傳感器，實現(xiàn)了Z軸亞埃***和XY軸埃***的低噪音水平，將其應(yīng)用在90微米掃描范圍的大樣品臺體 系 上，效果甚至優(yōu)于高分辨小樣品臺AFM的開環(huán)噪音水平。全新設(shè)計的XYZ閉環(huán)掃描頭，即使在較高的掃描速度工作時，也不會損壞圖像質(zhì)量，實現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù) 采集輸出量。
終極體驗
獨特的傳感器設(shè)計，在閉環(huán)條件下，也能實現(xiàn)大樣品臺、針尖掃描的AFM具有與開環(huán)噪音水平***樣的低噪音水平，且具有極高的掃描分辨率
極大地降低噪聲水平，在輕敲模式下低于30pm，接觸模式下可獲得原子***圖像
熱漂移速率低于200pm/分鐘，獲得真正的樣品圖像
高效率
XYZ閉環(huán)掃描器的完美設(shè)計，使儀器在較高掃描速度工作時，也不降低圖像質(zhì)量，具有更大的數(shù)據(jù)采集效率
將十年的研發(fā)經(jīng)驗融入到參數(shù)預(yù)設(shè)置中，在新的NanoScope® 軟件帶有默認的實驗?zāi)Ｊ健?br data-filtered="filtered" />高分辨率相機和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置
全功能
針尖和樣品之間開放式的空間設(shè)計，不僅可以進行各種標準實驗，也可以自行設(shè)計實驗方案，滿足不同研究工作的需求
硬件和軟件技術(shù)的不斷創(chuàng)新，新開發(fā)的HarmoniX 模式，可以測量納米尺度上材料性質(zhì)
用戶實用程序腳本提供半自動測量方案和數(shù)據(jù)分析
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
