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商品編號：72850

光子晶體探測器型橢偏儀

價格：詢價

產地：更新時間：2021-01-18 16:45

品牌：型號：ME-210/110

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北京飛凱曼公司提供光子晶體探測器型橢偏儀。這種光子晶體探測器型的橢偏儀是有日本Photonic Lattice公司***創(chuàng)，并應用到橢偏儀的測試中。日本Photonic Lattice公司在光子晶體的研究和制造領域世界，由此開發(fā)出的光子晶體探測器型橢偏儀具有測試速度快、測量準確、免維護、價格低廉等特點已經在光學薄膜、半導體薄膜、有機薄膜等領域有著廣泛的應用。該橢偏儀可快速準確測量薄膜的厚度和折射率的分布。

相比傳統的光譜型橢偏儀，光子晶體探測器型橢偏儀避免了探測器的機械運動。使得測試速度更快、測試更加準確、成本更加低廉。

ME-210型光子晶體探測器型橢偏儀特點：

1）可用于8英寸樣品的3D快速成像

2）可用于厚度差異小于1nm以內的薄膜的快速和高精度成像

3）超高速測量，速度可達20000點/分鐘

4）超高分辨率的測量，*小面積可達50um2

5）可進行透明基底上的薄膜的測試

技術規(guī)格：

型號	ME-210/110
重復性精度	0.1nm（厚度）, 0.001（折射率）
測量速度	每分鐘1000個點以上
光源	636nm 半導體激光器
測量點尺寸	0.5mm²
入射角	70度
樣品尺寸	8英寸（可選12英寸）
儀器尺寸和重量	650x650x1740mm/120kg
數據接口	千兆以太網（攝像機信號），RS-232C
電源	AC100-240V（50/60Hz）
軟件	SE-View

詳細信息請咨詢我們。

010-57034898，13426411645 info@pcm-bj.com QQ1606737747

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光子晶體探測器型橢偏儀

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